3-я Всероссийская научная конференция «Методы исследования состава и структуры функциональных материалов МИССФМ-2020»
3-я Всероссийская научная конференция «Методы исследования состава и структуры функциональных материалов МИССФМ-2020»
3-я Всероссийская научная Конференция «Методы исследования состава и структуры функциональных материалов» МИССФМ 2020 будет проходить параллельно с XI научной Конференцией и Школой Аналитика Сибири и Дальнего Востока, посвященной 100-летию со дня рождения И.Г. Юделевича. Мероприятия пройдут в Новосибирском научном центре 1 - 4 сентября 2020 года.
Работа конференций будет носить перекрестный характер, желающим будет предоставлена возможность принять участие как в той, так и другой.
Официальное открытие конференции АСиДВ состоится 31 августа, конференции МИССФМ – 1 сентября.
Развитие методов исследования химического состава и структуры связано с решением проблем и задач науки о материалах. Комплексная диагностика функциональных материалов является основой для изучения и оптимизации их свойств. В задачи конференции входит обсуждение современного состояния физических и химических методов исследования в применении к широкому кругу функциональных материалов: проводников, полупроводников, сверхпроводников, магнитных и оптических материалов, люминофоров, термохромных материалов, катализаторов, сорбентов, мембран, полимеров, наноматериалов. Специальное внимание на конференции МИССФМ-2020 планируется уделить работам по проведению фундаментальных и прикладных исследований и разработкам новых технологий с использованием пучков синхротронного и терагерцового излучения.
Научная программа будет включать пленарные лекции (40 минут), ключевые лекции (30 минт), устные (20 минут) и стендовые доклады по следующим научным направлениям:
- Перспективные направления диагностики состава и структуры функциональных материалов, в том числе, с использованием синхротронного излучения
- Методы определения химического состава твердых неорганических и органических функциональных материалов на макро-, микро- и наноуровне
- Методы определения параметров кристаллической структуры и наноструктуры
- Методы определения электронных характеристик вещества
- Изучение магнитных свойств функциональных материалов
- Методы определения дисперсности и текстурных характеристик
- Термоаналитические методы
Представление заявок на участие и тезисов докладов, а также детальная информация о конференции доступны на сайте: http://conf.nsc.ru/MISSFM-3
28.01.2020